2D 奈米 X 射線螢光 (n-XRF) 分析可提供奈米級的詳細元素圖譜和高解析度成像，為研究人員和科學家提供有關樣品成分的寶貴見解。80nm光斑，可掃描樣品取得二維元素分佈。X光具有高穿深，比SEM提供更深層的元素訊息。樣品無需表處，搭配奈米繞射比對結構資訊。
空間解析力80 nm的勞厄繞射提供局域晶粒取向、應變、應力、缺陷錯位等資訊。搭配n-XRF提供元素成份及n-XEOL的光譜資訊。
元素近邊的吸收影像掃描，提供您材料在充放電、升降溫等原位條件下，材料的微區不均勻分佈資訊，協助您改善材料或元件性能。
