Nano-Beam X-Ray Absorption Mapping (2D n-XAS)
奈米 X 射線吸收二維影像 (2D n-XAS) 是一種用於表徵奈米尺度材料的技術。 它利用聚焦的 X 射線束來研究樣品內的微小區域，捕獲二維吸收映射，提供了有關奈米尺度材料電子和化學性質的詳細見解。 這種先進的分析方法位於奈米科學和光譜學的交匯處，為解開奈米材料的獨特特性提供了強大工具。 作為多功能技術，2D n-XAS 在催化、能源材料和環境科學等領域都有廣泛應用前景。 其能夠深入探究奈米尺度電子和化學性質的能力為技術進步開啟了新的機會。 隨著 2D n-XAS 不斷發展，它將徹底改變我們對奈米材料性質的理解和操作，為各個科學和技術領域的創新鋪平道路。
The TPS-21A experimental station focuses X-rays to about 80 nanometers, performs X-ray near-edge absorption spectrum scanning under two-dimensional scanning, and detects the spatial distribution of the valence state of the sample.
Two-dimensional absorption spectrum scanning image - Ni atom valence state difference distribution
|
Experimental Details |
|
|
Item |
Value |
|
Sample |
NCM materials (foil) |
|
Scan Size (μm) |
3.5 x 3.5 |
|
Target Element |
Ni K-edge, 8333 eV |
|
Scan Step (μm) |
0.5 |
|
Spectra Energy Step (eV) |
0.3 |
|
Spectrum Range (eV) |
8325 ~ 8365 |
Under different X-ray energies, uneven spatial distribution of absorbance can be observed . After analysis, the valence spatial distribution of sodium can be obtained, ranging from 0 to 1 as shown in the figure above.