X光繞射（X-ray diffraction: XRD），是一利用布拉格繞射（Bragg deflection）解析結晶材料的非破壞檢測技術的統稱。可用於瞭解材料內部的晶體結構（長程有序的原子排列）、化學組成以及物理性質，最廣為應用的以相（phase）與優選晶體取向（orientation）訊息取得。而同步輻射光源（synchrotron radiation），能提供更高的光子通量。於相同的實驗時間內，可得到更佳的數據品質，為解析材料特徵帶來更多的可能性。現行的各大同步輻射光源，如TPS、TLS、Spring-8、ALS、APS、ESRF…等，X光繞射均為其重要的一項檢測技術。