奈米X光螢光影像(2D n-XRF)

2D 奈米 X 射線螢光 (n-XRF) 分析可提供奈米級的詳細元素圖譜和高解析度成像，為研究人員和科學家提供有關樣品成分的寶貴見解。80nm光斑，可掃描樣品取得二維元素分佈。X光具有高穿深，比SEM提供更深層的元素訊息。樣品無需表處，搭配奈米繞射比對結構資訊。