X光檢測服務

對稱X光繞射(θ-2θ scan)

對稱X光繞射(θ-2θ scan)

對稱X光繞射適用檢測單晶晶體或磊晶薄膜。通過對繞射峰寬的分析可以得知厚度、應力應變、及缺陷等資訊。量測角度為5~90度。
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X光二維透射成像(X-ray 2D Radiography)-平板偵測器

X光二維透射成像(X-ray 2D Radiography)-平板偵測器

世界最小光斑X光光源搭配CdTe探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
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三維X光奈米斷層掃描(3D X-ray CT)-推廣優惠方案

三維X光奈米斷層掃描(3D X-ray CT)-推廣優惠方案

世界最小光斑(300nm)之160kV能量X光光源，搭配小面積CdTe探測器或大面積平板探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
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三維斷層掃描數據分析服務

三維斷層掃描數據分析服務

針對客戶在科傳或其他公司量測所得的三維數據檔進行影像分析，取得諸如體積、孔隙率、缺陷分析、關鍵尺寸及內部特徵分析等資訊。
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X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 平面分析)

X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 平面分析)

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), mainly used to obtain chemical details of the surface of condense materials.
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X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 深度分析)

X光光電子能譜 (鋁靶光源XPS, 深度分析)

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), mainly used to obtain chemical details of the surface of condense materials.
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