對稱X光繞射適用檢測單晶晶體或磊晶薄膜。通過對繞射峰寬的分析可以得知厚度、應力應變、及缺陷等資訊。
GIXRD的繞射角掃描模式，提供多晶、粉末或有機薄膜的結構或優選方位資料。
可鑑定未知結構。將數據與資料庫比對，可鑑定混雜相或利用Rietveld擬合，提供未知物質的結構資訊。也可用於測定晶體顆粒尺寸。
