θ-2θ 掃描配置中的鏡面 X 射線衍射是一種用於詳細分析材料晶體結構的技術。透過以特定的入射角 (θ) 將單色 X 射線入射到晶體樣品上，與晶格中的電子相互作用會產生衍射 X 射線，然後以相對於入射光束的角度 (2θ) 進行檢測。根據布拉格定律，這個過程會產生繞射圖案，作為材料晶格參數的指紋，揭示晶面間距的基本細節。

這種方法基於晶體學原理，使研究人員能夠揭示有關材料的晶體結構、相組成和擇優取向的有價值的資訊。 θ-2θ 掃描配置中的鏡面 X 射線衍射在材料科學、固態物理學和結構生物學等不同科學領域有著廣泛的應用。其非破壞性性質使其成為在原子層面上了解晶體材料的複雜特性的寶貴工具。