X光近邊吸收能譜，可用以檢測材料中特定原子之電子組態，並得知原子所處位置之晶位對稱性。能譜近邊結構會受中心原子之對稱性、氧化數及週邊鍵結原子影響而發生變化。
延伸X光吸收精細結構，利用超過吸收邊界能量的X光能譜震盪，來觀測材料中不同種類原子間的細微結構及電子組態等性質，是研究物質微觀的重要利器。主要測定原子之區域結構，得知原子與鄰近原子間距離、種類及數目等。
