世界最小光斑(300nm)之160kV能量X光光源，搭配小面積CdTe探測器或大面積平板探測器，提供無與倫比的穿透力及空間解析力，適合工業組合產品的非破壞微觀檢測。
針對客戶在科傳或其他公司量測所得的三維數據檔進行影像分析，取得諸如體積、孔隙率、缺陷分析、關鍵尺寸及內部特徵分析等資訊。
