奈米尺度透射X射線顯微鏡（2D/3D n-TXM）是一種先進的成像技術，在奈米尺度材料表徵中起著關鍵作用。利用X射線透射，此方法可對樣品進行細緻的研究，提供關於其結構和組成的詳細見解。不論是在二維或三維模式下，n-TXM都提供高解析度的成像能力，使其成為奈米科學和顯微學交叉領域中的重要工具。

這項技術在各個科學領域都有廣泛的應用，使研究人員能夠探索材料科學、生物學和奈米技術等領域中的奈米尺度特徵。透過利用X射線探測材料的內部結構，2D/3D n-TXM提供了一種非破壞性手段來捕捉詳細的影像，有助於更深入地理解奈米材料的複雜性質和行為。隨著技術的不斷發展，2D/3D n-TXM在推動我們在奈米尺度成像和分析方面的知識和能力方面具有巨大的潛力。

Three-dimensional tomography using synchrotron radiation light source imaging: lithium iron phosphate battery material particle morphology

Two-dimensional projection image of lithium iron phosphate battery materials (Project Image)

Image Size: 15 μm x 15 μm

Expose Time: 60 sec

Number of 2D Projection Numbers for 3D: 180 projects

Beamline Specifications
*Item*	*Value*	*Note*
Source	SWLS
Monochromator	DCM
Energy Range (keV)	5~20	Most @ 8keV
Resolving Power E/ΔE	400~1500
Focusing Mirror	Toroidal
Acceptance Angle (mrad)	3 x 0.23	v
Beam Size at Sample (mm)	1 x 0.4	v
Flux (photons/sec)	3 x 10 ¹¹

Nanoscale Transmission X-ray Microscopy (2D/3D n-TXM)