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Specular X-ray Diffraction (θ-2θ scan)
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物質安全資料表號碼
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晶體或薄膜結構
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- 請選擇 -
三斜晶系
單斜晶系
正交晶系
四方晶系
立方晶系
三方晶系
六方晶系
未知
請選擇您的晶體或薄膜的晶體結構,如不清楚請選擇未知。
樣品尺寸
*
- 請選擇 -
< 1 x 1 cm
1 x 1 ~ 2 x 2 cm
> 2 x 2 cm
樣品的尺寸將影響訊號收集及設置的時間。
樣品製備及上樣調平
*
- 請選擇 -
薄膜在基板上
塊材
單晶或基板
樣品準備及上樣調平時間。
掃描角度範圍
*
- 請選擇 -
5 ~ 45 degree
5 ~ 60 degree
5 ~ 75 degree
請選擇θ-2θ的量測角度範圍。
量測角度間距
*
- 請選擇 -
0.005 建議單晶晶圓選用
0.01 建議塊材選用
0.02 建議厚膜選用
0.05 建議薄膜選用
0.1 建議薄膜選用
0.2 建議薄膜選用
0.5 建議薄膜選用
選擇角度的掃描間距。(單位:度)
曝光時間
*
- 請選擇 -
0.1 建議單晶晶圓選用
0.2 建議塊材選用
0.5 建議薄膜選用
1.0 建議奈米薄膜選用
選擇曝光的時間。(單位:秒)
每片樣品上量測點數
*
請輸入一片樣品上需要量測的位置數,大面積或非均勻的樣品建議增加量測位置以評估非均態分佈。
數據交件時間
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- 請選擇 -
標準交付(30工作天內)
快速交付(15工作天內)
特急交付(7工作天內)
選擇交付時間(以SGService收到樣品日期起算,以自動通知信上註記日期為準)
是否寄回樣品
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- 請選擇 -
否 (含處理費)
是 (台灣郵寄)
是(國際快遞)
選擇是否將通過快遞寄回樣品(將寄回會員註冊地址)
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