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檢測服務
同步輻射檢測
X光能譜
X光吸收分析
軟X光吸收能譜
Soft X-ray Extended Absorption Fine Structure (SX-EXAFS, 0.15~2 keV)
Order
01
填寫
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確認
03
等待付款
04
訂單已確認
Soft X-ray Extended Absorption Fine Structure (SX-EXAFS, 0.15~2 keV)
會員身分
樣品名稱
*
樣本內容或化學式
*
待測元素及濃度 (Ex. V/55wt%)
*
樣本其他元素濃度 (Ex. O/44wt%; Si/1wt%)
*
物質安全資料表號碼
申請須知
*
- 請選擇 -
同意
不同意
樣品送達時間需在量測時間的兩周前,實驗時間請見交下方數據交付時間。 下單後,實驗開始兩周前告知取消可退款70%,實驗開始二週內不予退款。 樣品未送達致使無法量測,不予退款。
樣品傳送費
*
- 請選擇 -
基本費率(單次委託1片)
基本費率(單次委託2片)
基本費率(單次委託3片)
基本費率(單次委託4片)
基本費率(單次委託5片)
基本費率(單次委託6片)
基本費率(單次委託6片以上)
樣品傳送及抽真空時間的光源費用,依委託樣品數量選擇
待測元素
*
- 請選擇 -
B K-edge(188 eV)
C K-edge(284 eV)
N K-edge(410 eV)
O K-edge(543 eV)
F K-edge(697 eV)
Ne K-edge(870 eV)
Na K-edge(1,071 eV)
Mg K-edge(1,303 eV)
Al K-edge(1,559 eV)
Si K-edge(1,839 eV)
S L-edge(162 eV)
Cl L-edge(200 eV)
Ar L-edge(248 eV)
K L-edge(295 eV)
Ca L-edge(346 eV)
Sc L-edge(399 eV)
Ti L-edge(454 eV)
V L-edge(512 eV)
Cr L-edge(574 eV)
Mn L-edge(639 eV)
Fe L-edge(707 eV)
Co L-edge(778 eV)
Ni L-edge(853 eV)
Cu L-edge(933 eV)
Zn L-edge(1,022 eV)
Ga L-edge(1,116 eV)
Ge L-edge(1,217 eV)
As L-edge(1,324 eV)
Se L-edge(1,434 eV)
Br L-edge(1,550 eV)
Kr L-edge(1,678 eV)
Rb L-edge(1,804 eV)
Sr L-edge(1,940 eV)
Y M-edge(156 eV)
Zr M-edge(179 eV)
Nb M-edge(202 eV)
Mo M-edge(228 eV)
Tc M-edge(254 eV)
Ru M-edge(280 eV)
Rh M-edge(307 eV)
Pd M-edge(335 eV)
Ag M-edge(368 eV)
Cd M-edge(405 eV)
In M-edge(444 eV)
Sn M-edge(485 eV)
Sb M-edge(528 eV)
Te M-edge(573 eV)
I M-edge(619 eV)
Xe M-edge(676 eV)
Cs M-edge(727 eV)
Ba M-edge(780 eV)
La M-edge(836 eV)
Ce M-edge(884 eV)
Pr M-edge(929 eV)
Nd M-edge(980 eV)
Pm M-edge(1,027 eV)
Sm M-edge(1,083 eV)
Eu M-edge(1,128 eV)
Gd M-edge(1,190 eV)
Tb M-edge(1,241 eV)
Dy M-edge(1,292 eV)
Ho M-edge(1,351 eV)
Er M-edge(1,409 eV)
Tm M-edge(1,468 eV)
Yb M-edge(1,528 eV)
Lu M-edge(1,589 eV)
Hf M-edge(1,662 eV)
Ta M-edge(1,735 eV)
W M-edge(1,809 eV)
Re M-edge(1,883 eV)
選擇待測元素
元素濃度範圍
*
- 請選擇 -
Single Atom Materials
x < 1.0 wt%
1.0 ~ 5.0 wt%
5.0 ~ 10.0 wt%
> 10.0 wt%
待測元素之重量百分比濃度
量測入射光角度數目
*
- 請選擇 -
1 Angle
2 Angles
3 Angles
4 Angles
5 Angles
6 Angles
7 Angles
8 Angles
9 Angles
X光正向入射樣品定義為0度角。請輸入同一樣品所要量測的入射角度數目。詳細的入射角度值請於備註欄中註明。我們接受由0~80度的入射角範圍。
樣本型態
*
- 請選擇 -
粉狀
薄膜 (無基板)
薄膜 (基板上)
樣品的外觀型態
量測方法
*
- 請選擇 -
TEY(全電子收量)
PFY(部分螢光收量)
科傳選定
吸收能譜探測方法。TEY:全電子收量(適用良導體及高濃度);PEY:部分螢光收量(不良導體、低濃度樣品)
量測或數據交付時間
*
- 請選擇 -
60個工作天
30個工作天
選擇交付時間(以SGService收到樣品日期起算,以自動通知信上註記日期為準)
是否寄回樣品
*
- 請選擇 -
否 (含處理費)
是 (台灣郵寄)
是(國際快遞)
選擇是否將通過快遞寄回樣品(將寄回會員註冊地址)
備註
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折扣
TWD
-
0
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30000
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