鍍層作為保證電子行業產品質量可靠性和穩定性的主要工藝，其厚度是產品質量的最重要保證因素，因此，對鍍層厚度的質量控制/保證至關重要，X射線熒光（XRF）因為其非破壞性、測量快速、易於使用，已成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術。

INSIGHT專為微光斑和超薄鍍層分析而設計，可提供極高的計數率，用於測量小於 50 µm 的特徵上的納米級鍍層，並提供高精度的檢測結果，同時保持較短的測量時間，這借助於其內部採用高強度毛細管光學系統和高靈敏度的檢測器。幫助諸多的PCB、半導體等電子相關行業輕鬆應對超薄鍍層帶來的檢測挑戰，有效提高生產力，確保符合規範，以避免出現性能低下的風險以及與廢料或重新施工相關的成本。