INSIGHT 鍍層分析儀，使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集並彙聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強的熒光信號，通過能譜探頭及後續的數據處理器等採集、處理並評價樣品被輻照後產生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現更複雜應用的快速測量和精準分析，是對不均勻或形狀不規則的未知樣品以及微觀物體進行元素分析的理想方法。

INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節約空間、易於操作、分析快速、檢測精準等特點，被廣泛應用於常規和復雜鍍層結構的樣品進行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規則，甚至微小件等形態的樣品，確保客戶獲得可靠、可重複結果以滿足數百種應用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。