FRINGE桌面式X射線繞射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發散狹縫照射在樣品上，樣品台位於測角儀中心，基於反射幾何θs-θd，X射線光束在滿足布拉格定律時，在特定的方向上發生繞射現象，經過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線探測器上，最終經過數據處理系統在分析軟件上展現出採集的繞射圖譜。

FRINGE操作簡單，同時具有高分析速度、極低的檢測限和強穩定性等特點，非常適用工業、學術研究等領域的用戶操作。緊湊輕便的外形和易於使用的設計，十分節約空間，適合每一台辦公桌，只需準備標準的電源插座，然後花費幾分鐘的時間，即可完成對粉末、塊狀或薄膜等形態的樣品進行主要物相定性、定量分析、晶體結構分析、材料結構分析及結晶度測定，是各種材料結構分析的理想之選。