礦石分析儀(Mineral Analyzer)
Description
X射線熒光分析技術是一種快速、無損、高精準度、可多元素同時測定的物質測量方法。適合於礦產主量、次量及微量成分分析具有簡便、快速的優點,這些特點使得該分析技術在許多領域都更加便攜且更具優勢。
Specification
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X射線熒光分析技術是一種快速、無損、高精準度、可多元素同時測定的物質測量方法。適合於礦產主量、次量及微量成分分析具有簡便、快速的優點,這些特點使得該分析技術在許多領域都更加便攜且更具優勢。
rueX 礦石分析儀重量輕、體積小,堅固耐用,能夠在很少或沒有樣本準備的情況下,在採礦活動的各個階段,包含從基層勘探開發,到礦石品位控制,甚至環境調查等情況下,提供快速、準確的元素分析結果,與傳統的實驗室方法相比,樣品吞吐量高,樣品密度增加,省時省心又省力。