為解決貴金屬分析中的疑難、熱點問題，一些新的方法和技術不斷地被引入貴金屬領域，為檢測分析的客觀性、準確性、定量性提供有力的科學保障。而X射線熒光光譜儀(XRF)作為一種無損快速分析技術，深受貴金屬領域青睞，被廣泛應用在貴金屬成分及含量檢測、貴金屬真偽鑑定等方面。

TrueX貴金屬分析儀可以無損地分析金、銀和鉑族金屬，以及非貴金屬合金金屬和鍍金樣品中的元素含量。相比於傳統的錫試金法、鎳锍試金法等分析方法，TrueX貴金屬分析儀檢測能力更強、檢測時間更短，更為高效和便攜，被廣泛應用於珠寶首飾製造與回收、工業催化劑、電子器件等領域。